本發(fā)明公開了一種專門用于測(cè)試紅外觸摸屏抗光干擾性能的測(cè)試裝置及其測(cè)試方法,該測(cè)試裝置包括用于放置被檢測(cè)抗光干擾性能的紅外觸摸屏的測(cè)試平臺(tái),用于發(fā)射可被紅外觸摸屏的紅外接收元件所接收的干擾光的模擬干擾光源,至少能夠調(diào)節(jié)干擾光的光強(qiáng)的光源控制單元以及用于調(diào)整干擾光射向紅外接收元件的入射角的旋轉(zhuǎn)構(gòu)件。這種測(cè)試裝置可以模擬各種紅外觸摸屏的應(yīng)用環(huán)境中的干擾光,無需去具體應(yīng)用環(huán)境中進(jìn)行抗光干擾性能檢測(cè),極大的簡化了紅外觸摸屏抗光干擾性能的測(cè)試過程。
聲明:
“紅外觸摸屏抗光干擾性能的測(cè)試裝置及其測(cè)試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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