本實(shí)用新型公開了一種連續(xù)檢測射頻部分中
芯片電性能的檢具,龍門架(5)橫梁的底部固設(shè)有水平氣缸(12),水平氣缸(12)活塞桿的作用端上固設(shè)有連接板(13),真空盤(14)的左側(cè)壁上焊接有與其內(nèi)腔連通的真空管(15),真空盤(14)與
真空泵(20)連接;龍門架(5)橫梁的頂部固設(shè)有升降氣缸(16)和電性能檢測設(shè)備(17),升降氣缸(16)的活塞桿貫穿橫梁設(shè)置,且延伸端上固設(shè)有升降板(18),電性能檢測設(shè)備(17)的兩個接觸頭(19)均固設(shè)于升降板(18)上,且兩個接觸頭(19)均貫穿升降板(18)設(shè)置。本實(shí)用新型的有益效果是:極大提高射頻部分中芯片的檢測效率、極大減輕工人工作強(qiáng)度、操作簡單。
聲明:
“一種連續(xù)檢測射頻部分中芯片電性能的檢具” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)