本實(shí)用新型公開了一種有源微波器件檢測(cè)裝置,屬于微波器件技術(shù)領(lǐng)域,包括檢測(cè)柜,所述檢測(cè)柜的底部滑動(dòng)連接有滑板,所述滑板的上方安裝有溫度傳感器和連接器,所述檢測(cè)柜的左側(cè)轉(zhuǎn)動(dòng)連接有柜門。本實(shí)用新型在使用時(shí),啟動(dòng)風(fēng)機(jī)和加熱器,此時(shí)向檢測(cè)柜的內(nèi)部吹熱空氣,從而使得檢測(cè)柜的內(nèi)部溫度升高,進(jìn)而模擬出微波器件在長(zhǎng)時(shí)間的工作下的升溫情況,此時(shí)檢測(cè)器對(duì)微波器件在高溫環(huán)境下的進(jìn)行性能測(cè)試,相比較現(xiàn)有的檢測(cè)裝置,新型的有源微波器件檢測(cè)裝置不僅能夠?qū)ξ⒉ㄆ骷诔叵逻M(jìn)行性能檢測(cè),并且能夠模擬微波器件在長(zhǎng)時(shí)間工作后溫度升高的環(huán)境下進(jìn)行性能檢測(cè),從而使得檢測(cè)結(jié)果更加準(zhǔn)確,避免殘次品流入市場(chǎng)。
聲明:
“一種有源微波器件檢測(cè)裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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