本發(fā)明公開了一種光電控制板可靠性測(cè)試系統(tǒng)，包括單片機(jī)控制中心、用于對(duì)光電控制板性能檢測(cè)的測(cè)試模塊、用于模擬信號(hào)發(fā)生的模擬信號(hào)發(fā)生模塊、用于為測(cè)試系統(tǒng)提供電源的電源模塊、用于對(duì)測(cè)試到的信息進(jìn)行處理的信息處理模塊、用于存儲(chǔ)光電控制板性能標(biāo)準(zhǔn)數(shù)值的數(shù)據(jù)庫(kù)、用于反饋測(cè)試信息的反饋模塊和用于顯示測(cè)試結(jié)果的顯示模塊。本發(fā)明通過(guò)設(shè)置測(cè)試模板，并將測(cè)試模塊由多個(gè)檢測(cè)模塊組成，可以利用電壓檢測(cè)模塊、電流檢測(cè)模塊、電阻檢測(cè)模塊、信息識(shí)別模塊、溫度檢測(cè)模塊和壓力檢測(cè)模塊分別對(duì)光電控制板的各個(gè)方面進(jìn)行檢測(cè)，檢測(cè)效果好，且檢測(cè)全面，從而可以增加光電控制板使用的可靠性。