本發(fā)明公開(kāi)一種半導(dǎo)體制冷產(chǎn)品檢測(cè)方法，包括：步驟一：基于各類(lèi)半導(dǎo)體制冷產(chǎn)品的能效標(biāo)準(zhǔn)，標(biāo)準(zhǔn)工況下，獲取滿(mǎn)足能效及性能要求的合格產(chǎn)品樣本的性能參數(shù)；步驟二：選取滿(mǎn)足步驟一中所述性能參數(shù)的樣機(jī)作為測(cè)試標(biāo)本，獲取測(cè)試標(biāo)本在不同環(huán)境溫度下的基準(zhǔn)性能參數(shù)，以此為數(shù)據(jù)基礎(chǔ)建立測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)庫(kù)；步驟三：通過(guò)設(shè)置于檢測(cè)工位的檢測(cè)裝置，獲取檢測(cè)工位的當(dāng)前環(huán)境溫度；步驟四：調(diào)用測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)庫(kù)中，處于當(dāng)前環(huán)境溫度下的基準(zhǔn)性能參數(shù)，將所調(diào)用的基準(zhǔn)性能參數(shù)與檢測(cè)工位上被測(cè)產(chǎn)品的測(cè)量性能參數(shù)進(jìn)行比較，判斷檢測(cè)工位上被測(cè)產(chǎn)品是否合格。本發(fā)明有效解決半導(dǎo)體制冷產(chǎn)品性能受環(huán)境溫度影響大、大批量性能檢測(cè)結(jié)果是否合格難以判定的問(wèn)題。