本發(fā)明涉及噴墨打印性能檢測的技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種噴頭墨滴落點(diǎn)觀測與統(tǒng)計(jì)設(shè)備及方法。所述噴頭墨滴落點(diǎn)觀測與統(tǒng)計(jì)設(shè)備包括:基片、傳送裝置、檢測裝置和清潔裝置,所述基片上設(shè)有測試圖形,用于記錄墨滴落點(diǎn)的位置;所述傳送裝置包括驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)、第一吸附平臺(tái)、第二吸附平臺(tái)和首尾相接的傳送結(jié)構(gòu),所述傳送結(jié)構(gòu)設(shè)置于所述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)上,通過所述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)帶動(dòng)所述傳送結(jié)構(gòu)運(yùn)動(dòng),所述基片設(shè)置在所述傳送結(jié)構(gòu)上,所述第一吸附平臺(tái)和第二吸附平臺(tái)設(shè)置于所述傳送結(jié)構(gòu)背向所述基片一側(cè),所述第一吸附平臺(tái)和第二吸附平臺(tái)用于吸附固定所述基片。本方案具有在長時(shí)間不更換最小基片的情況下,長時(shí)間地采集墨滴落點(diǎn)數(shù)據(jù),對噴頭性能進(jìn)行測評的優(yōu)點(diǎn)。
聲明:
“一種噴頭墨滴落點(diǎn)觀測與統(tǒng)計(jì)設(shè)備及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)