本實(shí)用新型公開(kāi)了一種薄膜絕緣性能的檢測(cè)裝置,包括殼體,所述殼體轉(zhuǎn)動(dòng)連接有轉(zhuǎn)板,所述殼體固定連接有控制盤(pán),所述殼體固定連接有處理器,所述處理器上端固定連接有支撐塊,所述支撐塊上端固定連接有檢測(cè)臺(tái),所述檢測(cè)臺(tái)固定連接導(dǎo)電板,所述殼體固定連接有氣缸,所述氣缸固定連接有移動(dòng)板,所述移動(dòng)板兩端滑動(dòng)連接有滑桿,所述滑桿套設(shè)有彈簧,所述移動(dòng)板內(nèi)端固定連接有伺服電機(jī),本實(shí)用新型涉及絕緣性能檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。該薄膜絕緣性能的檢測(cè)裝置,通過(guò)在移動(dòng)板兩端設(shè)置帶壓塊的滑桿,啟動(dòng)氣缸,氣缸帶動(dòng)移動(dòng)板及其相關(guān)組件向下運(yùn)動(dòng),滑桿、彈簧、壓塊相互配合,對(duì)薄膜檢測(cè)區(qū)域進(jìn)行壓固,便于后續(xù)薄膜絕緣性的檢測(cè)。
聲明:
“一種薄膜絕緣性能的檢測(cè)裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)