本實(shí)用新型公開了一種改良微納米尺度力學(xué)性能測試儀,屬于力學(xué)性能
檢測儀器領(lǐng)域。本實(shí)用新型包括機(jī)架、分列于機(jī)架兩側(cè)并分別通過支架支撐的壓痕制備裝置和壓痕掃描裝置、位移工作臺(tái),位移工作臺(tái)設(shè)置于機(jī)架上,位移工作臺(tái)上設(shè)有升降機(jī)構(gòu),升降機(jī)構(gòu)上設(shè)有旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu),旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)上設(shè)有用于放置樣品的工作臺(tái)。本實(shí)用新型將壓痕制備裝置和壓痕掃描裝置與機(jī)架位置相對固定,無需重復(fù)定位,通過升降機(jī)構(gòu)、XY方向位移機(jī)構(gòu)和旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)實(shí)現(xiàn)對樣品的快速檢測和分析,本實(shí)用新型無需人工調(diào)整,整個(gè)過程自動(dòng)完成。本實(shí)用新型增加了旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)可以方便壓痕制備裝置和壓痕掃描裝置兩個(gè)同時(shí)進(jìn)行工作,從而提高壓痕制備裝置和壓痕掃描裝置的工作效率。
聲明:
“改良微納米尺度力學(xué)性能測試儀” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)