本申請公開了一種測試系統(tǒng),該系統(tǒng)包括:N個測試裝置以及探針部;所述探針部包括N組測試探針;每組測試探針包括第一極測試探針和第二極測試探針;每組測試探針用于電連接待測驅動板的不同負載輸出端;各所述測試裝置包括第一輸入端以及第二輸入端;其中,第j測試裝置還包括第一輸出端以及第二輸出端;第N測試裝置的第一輸入端與第N組測試探針的第一極測試探針電連接。本申請實施例提供的一種測試系統(tǒng),該測試系統(tǒng)包括多個測試裝置,該測試裝置能夠對驅動板上設置的多個負載輸出端連接的內部電路進行全面性能檢測,有效的解決了因為漏檢電路而未檢測出驅動板性能品質不良的問題。
聲明:
“一種測試系統(tǒng)” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)