本申請(qǐng)公開了一種硬盤性能測試方法、系統(tǒng)、電子設(shè)備及可讀存儲(chǔ)介質(zhì),涉及服務(wù)器領(lǐng)域,該性能測試方法應(yīng)用于處理裝置,包括當(dāng)檢測到硬盤的性能測試異常,獲取系統(tǒng)日志和硬盤日志;通過所述系統(tǒng)日志和所述硬盤日志確定測試異常原因;基于所述測試異常原因選擇目標(biāo)性能測試;對(duì)所述硬盤執(zhí)行所述目標(biāo)性能測試,并重復(fù)所述當(dāng)檢測到硬盤的性能測試異常,獲取系統(tǒng)日志和硬盤日志的操作,直至得到所述硬盤的性能測試結(jié)果。本申請(qǐng)相較于人工分析更準(zhǔn)確、更可靠、更全面,且無需等到性能測試完全結(jié)束再進(jìn)行分析和判定,提高硬盤的性能測試效率。
聲明:
“一種硬盤性能測試方法、系統(tǒng)、電子設(shè)備及可讀存儲(chǔ)介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)