本發(fā)明是一種用于化學(xué)材料成份檢測的核磁共振成像方法。它包括下列步驟:選取檢測條件,設(shè)置受檢樣品,推衍化學(xué)成份像,利用計算機反演,分析材料結(jié)構(gòu)與化學(xué)成份,繪制時間-化學(xué)位移圖和時間-成份圖。它利用核磁共振成像儀測量受檢樣品的核磁共振化學(xué)位移譜和弛豫譜,從而得到化學(xué)結(jié)構(gòu)變化和分子之間的作用力關(guān)系;以化學(xué)位移作為化學(xué)成份像,進行成份相關(guān)性分析;用計算機進行反演,得到空間分布的化學(xué)結(jié)構(gòu)譜分布圖和弛豫譜;通過軟件選取不同的化學(xué)位移成像,分析獲得材料結(jié)構(gòu)與化學(xué)成份;繪制時間-化學(xué)位移圖和時間-成份圖,得到隨時間變化的化學(xué)位移譜圖和成份分布圖。本發(fā)明具有操作方便、成像準確、自動化程度高和分析數(shù)據(jù)可靠的優(yōu)點。
聲明:
“用于化學(xué)材料成份檢測的核磁共振成像方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)