本發(fā)明涉及一種基于Silica/chitosan/Ru納米粒子
電化學(xué)發(fā)光法檢測(cè)汞離子的方法,其是由步驟(1)合成摻雜殼聚糖和聯(lián)吡啶釕的二氧化硅復(fù)合納米粒子、(2)空白Silica/chitosan/Ru-ssDNA體系的制備、(3)Silica/chitosan/Ru-DNA/Hg體系的制備、(4)修飾電極的組裝、(5)電化學(xué)發(fā)光信號(hào)檢測(cè)、(6)ΔIi-CHgi標(biāo)準(zhǔn)曲線以及(7)檢測(cè)組成,其無(wú)需復(fù)雜的探針?lè)肿訕?biāo)記和固定過(guò)程,省時(shí)、成本低并且不影響富含T堿基的DNA對(duì)汞離子的識(shí)別,同時(shí)將化學(xué)修飾電極、納米粒子富集技術(shù)和電化學(xué)發(fā)光分析技術(shù)結(jié)合起來(lái),實(shí)現(xiàn)了高靈敏度檢測(cè)Hg2+,檢出限達(dá)3pM。
聲明:
“基于Silica/chitosan/Ru納米粒子電化學(xué)發(fā)光法檢測(cè)汞離子的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)