本發(fā)明涉及一種用于化學發(fā)光免疫檢測的基于樣條插值算法的曲線擬合方法,其解決了化學發(fā)光免疫檢測領域現有的四參數擬合算法參數調教困難、回算精度低,對于不同濃度數量級跨度的主曲線通用性差的技術問題,其首先獲取輸入的待擬合點,然后采用樣條插值算法進行擬合,保存系數用以回算濃度。本發(fā)明廣泛用于化學發(fā)光免疫檢測技術領域。
聲明:
“用于化學發(fā)光免疫檢測的基于樣條插值算法的曲線擬合方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)