本發(fā)明公開了一種化學發(fā)光底物檢驗方法,通過外觀檢查、空白孔觀察、發(fā)光值批間差和變異、發(fā)光值降幅,發(fā)光值線性,對化學發(fā)光實驗用發(fā)光底物產(chǎn)品進行系列化檢驗,檢驗步驟清晰明了,檢驗全面,檢驗結果真實可靠;全面涵蓋了低中高三個質(zhì)控范圍,適用范圍廣,且不用在每種試劑盒上單獨檢驗,節(jié)約了成本。本發(fā)明的檢驗方法簡單,容易操作,具有通用性,按此方法檢驗得到的質(zhì)量合格的化學發(fā)光底物,能滿足所有化學發(fā)光反應的正常進行,適用性很強,市面上面所有種類的發(fā)光底物的質(zhì)量是否合格都可以用本發(fā)明所提供的方法進行檢驗。
聲明:
“化學發(fā)光底物檢驗方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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