本發(fā)明基于光刻掩膜與微液池的
電化學高通量測試方法與裝置涉及金屬腐蝕、微區(qū)電化學及系統(tǒng)性數據積累應用技術領域。構成包括微液池測試系統(tǒng)、測試液更新系統(tǒng)、高精度XYZ三維移動平臺、顯微監(jiān)控系統(tǒng)、電化學測試系統(tǒng)、存儲及控制系統(tǒng)及在各系統(tǒng)間控制指令與測試數據有效傳輸的連接系統(tǒng)。本發(fā)明采用模塊化設計,可拓展性高,將光刻掩膜技術和微液池測試系統(tǒng)結合,并結合高通量思想,精準控制工作電極反應面積,具有高溶液量/工作電極反應面積比,減小反應產物的影響,消除縫隙腐蝕,降低漏液、堵塞、氧擴散風險的發(fā)生,具有更低的溶液電阻,可根據需要選擇掩膜圖形和微細管尺寸,實現了微區(qū)電化學的高通量、自動化測量,提高測量和分析效率。
聲明:
“基于光刻掩膜與微液池的電化學高通量測試方法與裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯系該技術所有人。
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