本發(fā)明公開了單個納米粒子的
電化學(xué)阻抗譜測定裝置及方法,所述裝置包括:單色激光調(diào)節(jié)模塊,用于將單色激光引入暗場成像中并調(diào)節(jié)所述單波長的范圍;粒子激發(fā)模塊,與所述單色激光調(diào)節(jié)模塊連接,用于激發(fā)具有局域等離子共振的貴金屬的單個納米粒子的散射共振,包括平凸透鏡和電化學(xué)池;電壓施加模塊,與所述粒子激發(fā)模塊連接,用于給所述電化學(xué)池施加周期性調(diào)制電壓;粒子散射強度檢測模塊,與所述電壓施加模塊和粒子激發(fā)模塊相連接,包括鎖相放大器和光電倍增管;本發(fā)明將單色激光引入暗場成像中,在檢測器方面將光電倍增管配備鎖相放大器,這使得可以在電壓調(diào)制下通過直接檢測單個納米粒子的散射強度值變化,獲得單個納米粒子的電化學(xué)阻抗譜。
聲明:
“單個納米粒子的電化學(xué)阻抗譜測定裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)