本發(fā)明公開了一種電致發(fā)光器件工況原位分析系統(tǒng)及分析方法,其中,系統(tǒng)包括激發(fā)光路部分、電激發(fā)源部分、收集光路部分、信號探測和解析部分、頻率調(diào)制和同步部分,以及儀器機械控制部分。本發(fā)明的系統(tǒng)是多模式、多維度、多尺度的,將多種先進光譜學(xué)測試、鎖相放大技術(shù)、半導(dǎo)體器件電學(xué)測試、自動化二維位移系統(tǒng)、顯微鏡系統(tǒng)與儀器控制系統(tǒng)等有機結(jié)合,有助于直接揭示器件的能量損失途徑、單分子層面工作機制與器件老化機制,并指導(dǎo)未來材料化學(xué)和器件結(jié)構(gòu)創(chuàng)新。
聲明:
“電致發(fā)光器件工況原位分析系統(tǒng)及分析方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)