本發(fā)明公開了一種基于表面等離于體諧振的局部電化學(xué)成像測(cè)試系統(tǒng)，其包括光學(xué)系統(tǒng)、機(jī)械系統(tǒng)、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)、流通系統(tǒng)、電化學(xué)系統(tǒng)和計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng);光學(xué)系統(tǒng)包括SPR芯片、光學(xué)棱鏡和光源，光源發(fā)出入射激光并照射至光學(xué)棱鏡;流通系統(tǒng)包括微流控測(cè)試池;待測(cè)物通過所述微流控測(cè)試池流經(jīng)SPR芯片上表面引起所述表面等離于諧振吸收峰的改變;電化學(xué)系統(tǒng)問待測(cè)物提供電刺激使得待測(cè)物產(chǎn)生電化學(xué)反應(yīng)，并采集相應(yīng)的電化學(xué)信號(hào);所述數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)采集所述表面等離于諧振吸收峰的改變;所述機(jī)械系統(tǒng)用于調(diào)整光源發(fā)出的入射激光的角度;所述計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)根據(jù)所述電化學(xué)信號(hào)和所述表面等離子諧振吸收峰的變化獲得待測(cè)物的相應(yīng)信息。