本發(fā)明公開一種基于強(qiáng)化學(xué)習(xí)的X射線頭影測(cè)量標(biāo)志點(diǎn)自動(dòng)定位方法，包括以下：獲取若干訓(xùn)練用的正畸科X線頭顱側(cè)位片圖像數(shù)據(jù)，人工標(biāo)注出多個(gè)標(biāo)志點(diǎn)的位置，并預(yù)處理后確定每一個(gè)標(biāo)志點(diǎn)的最終位置；建立馬爾科夫決策過程模型，基于深度強(qiáng)化學(xué)習(xí)定位算法，求解馬爾科夫決策過程，得到最優(yōu)策略；S3）輸入一張X線頭顱側(cè)位片，得到每個(gè)標(biāo)志點(diǎn)的估算值，在圖中標(biāo)出目標(biāo)點(diǎn)和經(jīng)過模型預(yù)測(cè)的標(biāo)志點(diǎn)位置，同目標(biāo)點(diǎn)相比較得出平均誤差和方差。本發(fā)明采用深度強(qiáng)化學(xué)習(xí)的方法，將頭影標(biāo)志點(diǎn)定位問題表示為強(qiáng)化學(xué)習(xí)中的順序決策問題；能夠針對(duì)不同的標(biāo)志點(diǎn)，分配不同的強(qiáng)化學(xué)習(xí)代理，同時(shí)探索各自的標(biāo)志點(diǎn)，從而解決頭影標(biāo)志點(diǎn)定位的耗時(shí)和準(zhǔn)確性問題。