本發(fā)明涉及一種用于
電化學微分質譜原位測試的氣體管路,包括第一三通閥和第二三通閥;所述第一三通閥的第一端與氣源裝置相連,第二端與第二氣閥的第一端相連,第三端與第一氣閥的第一端相連;所述第二三通閥的第一端與質譜原位測試裝置相連,第二端與第三氣閥的第一端相連,第三端與所述第一氣閥的第二端相連;所述第二氣閥的第二端與電池測試裝置的進氣閥相連,所述第三氣閥的第二端與所述電池測試裝置的排氣閥相連。本發(fā)明能夠避免外界氣體的引入對測試結果的影響。
聲明:
“用于電化學微分質譜原位測試的氣體管路” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)