一種基于光學(xué)相干層析成像不均勻性評(píng)估的微區(qū)分析方法,采用掃頻光學(xué)相干層析成像儀,在透明和半透明的玻璃、陶瓷及寶玉石等無(wú)機(jī)材料及其工藝品上進(jìn)行二維和三維掃描,根據(jù)非均質(zhì)材料對(duì)光的吸收和散射的差異,確定瓷釉和玻璃中的析晶或未熔融原料以及寶玉石中的包裹體等異質(zhì)顆粒的位置,對(duì)其表面和亞表面均勻性和表面風(fēng)化程度進(jìn)行評(píng)估。根據(jù)研究目的準(zhǔn)確確定玻璃、陶瓷和寶玉石合適的微區(qū)分析區(qū)域,為精確定性和定量分析提供科學(xué)依據(jù)。本發(fā)明方法節(jié)約時(shí)間,提高了分析效率,可廣泛應(yīng)用于透明和半透明材料表面及亞表面的化學(xué)成分和物相等微區(qū)表征、工藝檢測(cè)等領(lǐng)域。
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