本發(fā)明屬于化工分析處理技術(shù)領(lǐng)域,涉及一種X射線熒光光譜法分析
氫氧化鋁中成分含量的方法、氫氧化鋁及其應(yīng)用。本發(fā)明的X射線熒光光譜法分析氫氧化鋁中成分含量的方法,包括以下步驟:研磨;粉末壓片;采用X射線熒光光譜法,測定樣片中各成分的發(fā)射強度,利用已建立的各成分的工作曲線,進行待測氫氧化鋁樣片中Al
2O
3、Fe
2O
3、SiO
2和Na
2O含量的分析。本發(fā)明方法操作簡單,分析速度快,可同時分析氫氧化鋁中Al
2O
3、Fe
2O
3、SiO
2、Na
2O四項成分,通過確認該方法具有科學(xué)性、先進性、適用性、分析時間短、準確度高、重復(fù)性好、無污染等特點;重復(fù)性和再現(xiàn)性均優(yōu)于國家標(biāo)準的氫氧化鋁中化學(xué)成分的測定方法。
聲明:
“X射線熒光光譜法分析氫氧化鋁中成分含量的方法、氫氧化鋁及其應(yīng)用” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)