一種新型的固體表面分析儀器,它是以獲取和分析固體樣品表面的負離子譜以達到研究固體材料及其表面,和在固體表面發(fā)生的各種物理、化學過程,以及樣品周圍的氣氛環(huán)境的目的。它不僅能夠從負離子譜得到現(xiàn)有的原子探針(AtomProbe)所不能夠得到的信息,而且降低了樣品上所需的工作電壓約十倍,使實驗結果擺脫了外加高場的影響,并擴大了可研究材料的范圍;與后者相結合,能獲取更豐富的研究信息。
聲明:
“新型的固體表面分析儀器” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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