本發(fā)明屬于
半導體技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種用于晶圓刻蝕的化學液供應(yīng)裝置及化學液供應(yīng)方法。本發(fā)明所述的用于晶圓刻蝕的化學液供應(yīng)裝置,包括第一化學液供應(yīng)槽、第二化學液供應(yīng)槽和液壓泵,液壓泵的輸出端的總管路上設(shè)有第一支路和第二支路,第一支路上設(shè)有第一控制閥門,第二支路與第一化學液供應(yīng)槽的內(nèi)部相通連接,第二支路上設(shè)有第二控制閥門,液壓泵的輸入端分別與第一化學液供應(yīng)槽和第二化學液供應(yīng)槽的內(nèi)部相通連接。通過使用本發(fā)明所述的用于晶圓刻蝕的化學液供應(yīng)裝置及化學液供應(yīng)方法,能夠有效地對化學液進行預(yù)處理,同時,在化學液預(yù)處理過程中能夠?qū)瘜W液的液位高度進行實時檢測,減少了化學液供應(yīng)過程中存在的安全隱患。
聲明:
“用于晶圓刻蝕的化學液供應(yīng)裝置及化學液供應(yīng)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)