本發(fā)明涉及一種用于光電池的紋理定量評價的光學(xué)方法和裝置。本發(fā)明的方法和裝置適于通過在支撐光電池的襯底的表面上生長相關(guān)的幾何圖案來表征的紋理形態(tài)。前述形態(tài)可以使用不同的方法形成,包括單晶Si的化學(xué)侵蝕,該形態(tài)具有朝上的和倒置的角錐。本發(fā)明的方法還可以用于在多晶體Si中生長出來的其它紋理程度以及在已經(jīng)在前述條件下預(yù)先進(jìn)行了紋理化的襯底上沉積的
多晶硅電池中存在的紋理的程度。還可以將本發(fā)明擴(kuò)展到具有類似紋理圖案的其它材料。
聲明:
“用于光電池的紋理定量分析的光學(xué)方法和裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)