本發(fā)明提供的一種阻抗脈沖顆粒檢測(cè)裝置、檢測(cè)系統(tǒng)以及檢測(cè)方法,涉及
電化學(xué)檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,包括:薄膜層,薄膜層上開(kāi)設(shè)有檢測(cè)微孔;主通道層,主通道層位于薄膜層的一側(cè);主通道層內(nèi)設(shè)置有與檢測(cè)微孔交叉連通的聚焦通道,經(jīng)聚焦通道聚焦后的樣本流動(dòng)軌跡貼近經(jīng)過(guò)檢測(cè)微孔。在上述技術(shù)方案中,通過(guò)改變聚焦通道的尺寸、薄膜層厚度和檢測(cè)微孔的尺寸可以不斷調(diào)整粒徑檢測(cè)范圍,從基因測(cè)序的埃米級(jí)顆粒到毫米級(jí)顆粒都能檢測(cè)。
聲明:
“阻抗脈沖顆粒檢測(cè)裝置、檢測(cè)系統(tǒng)以及檢測(cè)方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專(zhuān)利(論文)的發(fā)明人(作者)