本發(fā)明涉及材料科學(xué)實(shí)驗(yàn)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及到一種電化學(xué)組合材料芯片，通過在一基底上集成樣品區(qū)域陣列，并于該區(qū)域中設(shè)置有集流電極與待測(cè)試的樣品，并通過一電極引線實(shí)現(xiàn)集流電極與金手指的電連接，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)各樣品分別獨(dú)立的通過集流電極、電極引線、金手指接口和一外部電化學(xué)測(cè)試儀形成電流通路，并進(jìn)行后續(xù)的電化學(xué)性能分析，并可以大大提高電化學(xué)性能測(cè)試的效率并完全滿足高通量電化學(xué)性能測(cè)試的要求。