本發(fā)明的實(shí)施例公開(kāi)一種基于CT技術(shù)的高溫
電化學(xué)體系電極界面3D形貌表征方法,屬于電化學(xué)過(guò)程原位表征技術(shù)領(lǐng)域。所述高溫電化學(xué)體系電極界面3D形貌表征方法是一種將計(jì)算機(jī)原位斷層掃描技術(shù)和高溫熔鹽電解質(zhì)
電解技術(shù)相結(jié)合的表征方法,具體來(lái)說(shuō)是將電解的數(shù)據(jù)通過(guò)原位CT技術(shù)的幫助在原位進(jìn)行建模分析,獲得整個(gè)電解過(guò)程的電極界面3D形貌,實(shí)現(xiàn)對(duì)電解過(guò)程機(jī)理的電極界面3D形貌隨時(shí)間的演化過(guò)程的研究。本發(fā)明具有高精度、高亮度、高準(zhǔn)直、高效率、非破壞性和實(shí)時(shí)性等特點(diǎn)。通過(guò)該方法,可以記錄高溫熔鹽電解過(guò)程中,隨電解時(shí)間推進(jìn),電極表面3D形貌演變的圖像信息,從而更加深刻地揭示電化學(xué)反應(yīng)機(jī)理。
聲明:
“基于CT技術(shù)的高溫電化學(xué)體系電極界面3D形貌表征方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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