目標分析物檢測裝置包括具有恒電位儀和耦合到恒電位儀的微控制器的殼體。該裝置還包括基板,所述基板在基板的第一表面上具有多個電極。所述多個電極中的第一組電極限定第一樣品檢測區(qū)域?;蹇刹鹦兜剡B接到殼體,使得在將基板連接到殼體時第一組電極耦合到恒電位儀。該裝置還包括可耦合到基板的第二表面的磁體組件。該磁體組件包括位于磁體組件中的磁體,使得在將磁體組件耦合到基板上時,來自磁體的磁場穿過基板和第一組電極延伸到第一樣品檢測區(qū)域上方的區(qū)域中。
聲明:
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