用于從納米級到毫米級進行光譜法的方法和裝置以及成像技術(shù),包括原子力顯微鏡、紅外光譜法、共焦顯微鏡、拉曼光譜法和質(zhì)譜法。對于紅外光譜法,用紅外光照射樣品,并用聚焦的UV/可見光束和/或AFM尖端讀出所得的樣品變形。兩種技術(shù)的結(jié)合提供了使用UV/可見光的快速和大面積測量掃描以及使用AFM尖端的高分辨率測量。該方法和裝置還包括通過拉曼光譜儀分析從樣品反射/散射的光的能力,用于通過拉曼光譜法進行補充分析。
聲明:
“用于化學成像原子力顯微鏡紅外光譜法的方法和裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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