本發(fā)明涉及光譜標(biāo)準(zhǔn)樣品制備技術(shù)領(lǐng)域,尤其是涉及一種低合金鑄鐵光譜成套標(biāo)準(zhǔn)樣品及其制備方法和檢測(cè)方法,包括化學(xué)成分的設(shè)計(jì),冶煉,成型,標(biāo)準(zhǔn)樣品的處理及制備,標(biāo)準(zhǔn)樣品初檢,單元內(nèi)檢驗(yàn),塊間均勻性檢驗(yàn),定值分析及標(biāo)準(zhǔn)值確定,穩(wěn)定性檢驗(yàn),成線性考察。通過本發(fā)明的方法制備得到的標(biāo)準(zhǔn)樣品使用范圍廣,樣品均勻性好,樣品中夾雜物含量低,樣品白口化徹底,且樣品具有長(zhǎng)期穩(wěn)定性,成線性良好的特征,具有廣闊的應(yīng)用前景。
聲明:
“低合金鑄鐵光譜成套標(biāo)準(zhǔn)樣品及其制備方法和檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)