本申請?zhí)峁┮环N光學(xué)檢測系統(tǒng)、方法、設(shè)備和存儲介質(zhì)。該光學(xué)檢測系統(tǒng),用于對待測物進行檢測,包括:光源、波分復(fù)用光波導(dǎo)模塊、至少一個檢測探針、探測器;光源發(fā)射的光通過波分復(fù)用光波導(dǎo)模塊傳輸至所述至少一個檢測探針;所述至少一個檢測探針將光射出到待測物中,并收集攜帶有待測物信息的光信號;所述至少一個檢測探針收集的攜帶有待測物信息的光信號通過波分復(fù)用光波導(dǎo)模塊傳輸至探測器;探測器對所述至少一個檢測探針收集的攜帶有待測物信息的光信號進行檢測,以確定待測物的成分。利用光對不同物質(zhì)的不同反射特性對物質(zhì)進行檢測,相對于
電化學(xué)傳感器,不需要反應(yīng)物,也不容易失效,可以保證壽命。
聲明:
“光學(xué)檢測系統(tǒng)、方法、設(shè)備和存儲介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)