本發(fā)明公開了一種高反射率材料表面缺陷的熱成像檢測(cè)系統(tǒng)和方法。包括參數(shù)檢測(cè)模塊、系統(tǒng)控制模塊、紅外測(cè)量成像模塊、聚焦旗、聚焦旗制作模塊、運(yùn)動(dòng)控制模塊、信號(hào)處理模塊及診斷模塊,能夠?qū)Ω叻瓷渎什牧媳砻娴募?xì)微裂紋缺陷進(jìn)行檢測(cè),檢驗(yàn)速度快,實(shí)施簡(jiǎn)單,結(jié)果直觀,效率高,無(wú)輻射,無(wú)化學(xué)腐蝕,避免了光污染,節(jié)約能量,準(zhǔn)確度高,另外,能夠嚴(yán)格控制曝光,符合特種零件生產(chǎn)工藝的要求。
聲明:
“高反射率材料表面缺陷的熱成像檢測(cè)系統(tǒng)和方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)