本發(fā)明提供了一種玻璃微流控
芯片的質量檢測方法,其特征在于:包括對玻璃微流控芯片通道的橫截面輪廓測定、表面光潔度測定、表面電荷分布測定和化學性質確定。本發(fā)明提供了一種玻璃微流控芯片的質量檢測方法的優(yōu)點在于:首次全面、客觀、準確的對玻璃微流控芯片的產品質量進行了監(jiān)控,從而避免了以往在玻璃微流控芯片的生產使用過程中,由于產品評價標準的缺乏所造成的混亂局面;對出自不同廠家的玻璃微流控芯片進行產品質量檢測的理想方法并,可成為行業(yè)標準。
聲明:
“玻璃微流控芯片的質量檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)