本發(fā)明公開(kāi)了目標(biāo)檢測(cè)模型學(xué)習(xí)率的設(shè)置方法和裝置,涉及計(jì)算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域。該方法的一具體實(shí)施方式包括設(shè)置訓(xùn)練集總圖片數(shù)量和每輪迭代訓(xùn)練的圖片數(shù)量,以計(jì)算步長(zhǎng);初始化學(xué)習(xí)率,以在訓(xùn)練集上進(jìn)行目標(biāo)檢測(cè)模型的訓(xùn)練,且每迭代一個(gè)步長(zhǎng)將學(xué)習(xí)率增大預(yù)設(shè)數(shù)值,同時(shí)計(jì)算一次驗(yàn)證集的平均精度均值,進(jìn)而獲得最小學(xué)習(xí)率和最大學(xué)習(xí)率;再以預(yù)設(shè)數(shù)量個(gè)步長(zhǎng)為一個(gè)周期循環(huán)訓(xùn)練目標(biāo)檢測(cè)模型,直到完成預(yù)設(shè)的最大迭代次數(shù);其中,基于最小學(xué)習(xí)率和最大學(xué)習(xí)率,根據(jù)步長(zhǎng)內(nèi)當(dāng)前迭代的次數(shù),計(jì)算每次迭代的學(xué)習(xí)率。從而,本發(fā)明的實(shí)施方式能夠解決現(xiàn)有技術(shù)訓(xùn)練目標(biāo)檢測(cè)模型的學(xué)習(xí)率設(shè)置效率低的問(wèn)題。
聲明:
“目標(biāo)檢測(cè)模型學(xué)習(xí)率的設(shè)置方法和裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)