本發(fā)明涉及一種用于多晶鎢或單晶鎢材料組織檢驗的試驗樣品制備、檢驗方法,包括一種用于多晶鎢或單晶鎢材料低倍和顯微組織檢驗的表面拋光方法、一種用于多晶鎢或單晶鎢材料低倍和顯微組織檢驗的表面選擇性腐蝕方法、一種用于多晶鎢或單晶鎢材料的低倍組織檢驗方法、一種用于多晶鎢或單晶鎢材料的顯微組織和精細結(jié)構(gòu)檢驗方法。利用單晶鎢或單晶鎢材料表面不同晶面取向耐蝕性差異,在
電化學拋光表面的基礎(chǔ)上,通過進一步調(diào)整電壓參數(shù)使材料表面發(fā)生選擇性腐蝕,進一步使用掃描電子顯微鏡等微觀分析方法對因選擇性腐蝕顯示的微觀晶體取向有差異的顯微組織和精細結(jié)構(gòu)(大角晶界、小角晶界、亞晶界、晶面取向角)進行檢驗(觀察和測量)。
聲明:
“用于多晶鎢或單晶鎢材料組織檢驗的試驗樣品制備、檢驗方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)