一種散射顯微鏡檢查裝置,該散射顯微鏡檢查裝置使用顯微鏡對(duì)包括表面的物體進(jìn)行成像。光源發(fā)射照射光,以及光檢測(cè)器檢測(cè)從物體彈性散射的光。電位被施加到該表面,在進(jìn)行成像時(shí),電位影響物體的
電化學(xué)特性。電位提供了一種對(duì)比度機(jī)制,該對(duì)比度機(jī)制改善了成像并且使得能夠表征物體和/或周圍環(huán)境。
聲明:
“散射顯微鏡檢查” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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