本發(fā)明公開了一種基于機(jī)器學(xué)習(xí)的比移值預(yù)測方法，采集化合物、展開劑和比移值數(shù)據(jù)，通過機(jī)器學(xué)習(xí)方法建立比移值預(yù)測模型，能夠快速準(zhǔn)確地預(yù)測出目標(biāo)化合物在目標(biāo)展開劑體系下的比移值曲線，并根據(jù)曲線給出最優(yōu)展開劑配比方案，使得實(shí)驗(yàn)獲得的比移值不至于過大或者過小，極大地減少了薄層色譜分析技術(shù)對實(shí)驗(yàn)者經(jīng)驗(yàn)的依賴，解決了展開劑選擇的問題，避免了枯燥的重復(fù)實(shí)驗(yàn)，極大地提升了極性測定的效率，節(jié)省了時(shí)間和人力成本。本發(fā)明將機(jī)器學(xué)習(xí)技術(shù)引入實(shí)驗(yàn)化學(xué)領(lǐng)域，使得沒有實(shí)驗(yàn)條件的情況下獲取化合物的比移值成為一種可能，在實(shí)驗(yàn)化學(xué)、藥物合成與分析等領(lǐng)域有著廣泛應(yīng)用和重要意義。