本發(fā)明公開了一種基于寬離子束拋光?掃描電鏡的孔隙結(jié)構(gòu)表征方法,包括以下步驟:步驟100、對巖心樣品切割獲得樣品薄板,并對所述樣品薄板進(jìn)行預(yù)處理獲得鍍鎢拋光面;步驟200、利用掃描電鏡對所述樣品薄板的鍍鎢拋光面進(jìn)行順次掃描并拼接形成全景圖;步驟300、基于閾值分割方法篩選孔隙和劃分礦物類型分別形成孔隙圖層、礦物類型圖層;步驟400、將孔隙圖層和礦物類型圖層進(jìn)行疊合分析,并基于二維微觀圖像的孔隙度預(yù)測大尺寸三維柱狀樣品的孔隙度;本發(fā)明提供一種在大面積巖石樣品表面直觀研究各礦物相中孔隙形態(tài)、孔徑分布與連通性的方法,巖心耗材少,孔隙度預(yù)測準(zhǔn)確,可廣泛應(yīng)用于儲(chǔ)層物性評價(jià)、成巖作用的研究中。
聲明:
“基于寬離子束拋光-掃描電鏡的孔隙結(jié)構(gòu)表征方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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