本發(fā)明涉化學分析技術領域,具體為一種熒光探針法測定表面活性物質臨界膠束濃度的方法。本發(fā)明方法采用n?B
18H
22為熒光探針物質,發(fā)現(xiàn)陰離子表面活性劑SDS能增強n?B
18H
22的熒光。在最佳條件下,熒光強度與SDS的濃度分別在0?8.2×10
?3mol/L及8.2×10
?3mo/L?3.27×10
?2mol/L范圍內(nèi)分段成良好的線性關系,曲線的拐點對應的表面活性劑濃度即為其臨界膠束濃度(CMC),據(jù)此,建立了本發(fā)明的測定CMC的簡單熒光方法。結果表明由該法測定的CMC與已報道值符合,說明方法的可行性與準確性。
聲明:
“熒光探針法測定表面活性物質臨界膠束濃度的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)