本發(fā)明涉及基于納米帶集成基片的可視化激光功率探測器及測量方法,屬于光電探測領(lǐng)域。通過可控的化學(xué)氣相沉積方法在單基片上合成鋅摻雜的硫化鎘納米帶,利用功率可調(diào)的紫外激光器定標(biāo),完成不同功率下納米結(jié)構(gòu)基片對應(yīng)的光致發(fā)光光譜的測量以及對應(yīng)顯示顏色,可實現(xiàn)從紫外到藍(lán)綠光波段注入激光功率的精確探測以及通過在微區(qū)范圍內(nèi)實時的顏色變化可實現(xiàn)對入射激光功率以及光斑功率分布情況的可視化實時監(jiān)測。與現(xiàn)有的市場化的功率探測器相比,其具有探測材料制作成本低廉,無需外部電壓激勵源,沒有熱的積累,無需復(fù)雜高成本的信號轉(zhuǎn)換模塊,具有更好的環(huán)境適應(yīng)性,可實時觀測等優(yōu)勢,特別是在微區(qū)光功率的評定方面,可以實現(xiàn)大功率密度無損傷實時感知。
聲明:
“基于納米帶集成基片的可視化激光功率探測器及測量方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)