本發(fā)明涉及一種原位X?射線吸收譜測試裝置、方法,所述裝置包括:
電化學(xué)工作站、電化學(xué)反應(yīng)池、差分電化學(xué)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng);所述電化學(xué)工作站與所述電化學(xué)反應(yīng)池和差分電化學(xué)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)連接;所述電化學(xué)反應(yīng)池與所述差分電化學(xué)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)連接。本申請通過交變電壓的方式進行原位X?射線吸收譜測試,能夠同時檢測催化劑在不同電壓下的化學(xué)價態(tài)變化,反映催化劑的氧化還原反應(yīng)歷程,為探究催化劑的結(jié)構(gòu)演變提供實時有效的信息,通過測試高電平和低電平時的差分X?射線吸收譜,獲取電化學(xué)調(diào)制X?射線吸收譜,比現(xiàn)有技術(shù)分別測試高低電平下XAS再做差分的方法,獲得更高信噪比的實驗數(shù)據(jù)。
聲明:
“原位X-射線吸收譜測試裝置、方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)