本發(fā)明公開了一種納米器件電學測試用鎢探針的制備方法及制備裝置,該方法原理是通過
電化學腐蝕鎢絲獲得鎢探針,其中鎢絲作為陽極并浸泡在電解液中,當通過鎢絲的電流降低至20mA時,開始提升鎢絲;當鎢絲被腐蝕斷開的瞬間,反向電流使鎢絲作為陰極,并提升鎢絲離開電解液,獲得鎢探針。通過本發(fā)明能制備大長徑比的鎢探針;同時通過檢測鎢絲斷開時的反向電流,即可預估鎢探針的尖端錐角,從而節(jié)省了傳統(tǒng)的后續(xù)需要電子掃描顯微鏡觀察確認的時間和成本。
聲明:
“納米器件電學測試用鎢探針的制備方法及制備裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)