本發(fā)明公開一種D?T源中子孔隙度測井非彈性散射影響的校正方法,該方法采用可控中子源孔隙度測井裝置,按照如下步驟進行:步驟1:求取D?T源所測近、遠探測器計數(shù)率比值R與地層快中子減速長度Ls的關(guān)系;步驟2:推導(dǎo)R與所劃分兩階段減速長度Ls?H、Ls?AB的關(guān)系;步驟3:利用非彈伽馬計數(shù)率對Ls?H進行表征,進而得出與Am?Be源相同的Ls?AB;步驟4:根據(jù)減速長度與孔隙度的刻度關(guān)系,得出與Am?Be源響應(yīng)兼容的孔隙度結(jié)果。本發(fā)明可以有效地代替密度校正方法來提高可控源與化學源測井的兼容性,并且不需要地層密度參數(shù),無化學源放射源的需求,在不進行可控源密度測量的情況下也能進行處理,對可控源孔隙度測井的實際應(yīng)用推廣具有重要意義。
聲明:
“D-T源中子孔隙度測井非彈性散射影響的校正方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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