本發(fā)明提供了一種晶體硅電池界面復(fù)合速率的測(cè)試方法,包括選取若干硅片,進(jìn)行制絨、擴(kuò)散、清洗與鍍膜;在鍍膜后的硅片表面印刷漿料、燒結(jié)得到若干具有不同圖案電極柵線的
電池片,進(jìn)行測(cè)試;以
及f為坐標(biāo)建立平面坐標(biāo)系,并在該平面坐標(biāo)系中對(duì)若干所述電池片的相應(yīng)數(shù)據(jù)進(jìn)行線性擬合,得到斜率k為
再求解得到S
me?Si。本發(fā)明測(cè)試方法無需對(duì)電池片上的電極柵線進(jìn)行清洗,降低化學(xué)品損耗,減少廢液排放;且通過常規(guī)I?V測(cè)試設(shè)備即可實(shí)現(xiàn),減少設(shè)備投入成本,具有較高的實(shí)用價(jià)值。
聲明:
“晶體硅電池界面復(fù)合速率的測(cè)試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)