本發(fā)明涉及一種固態(tài)電解質薄膜離子電導率的測試方法,包括:在金屬基底上制備固態(tài)電解質薄膜,在金屬基底上留出空白空間作為測試電極,在固態(tài)電解質薄膜上制備頂層金屬薄膜作為測試對電極;或在非金屬基底上制備底層金屬薄膜,在底層金屬薄膜上制備固態(tài)電解質薄膜,底層金屬薄膜留出空白空間作為測試電極,于固態(tài)電解質薄膜上制備頂層金屬薄膜作為測試對電極。利用
電化學工作站分別以電解質薄膜的上下層金屬作為電極與對電極,采用交流阻抗A.C Impedance的測試方法,得到Z’阻抗實部與?Z’’阻抗虛部的曲線,通過計算得到電解質薄膜的離子電導率。本發(fā)明具有測試方法簡單、測試效率高即精度高的優(yōu)點。
聲明:
“固態(tài)電解質薄膜離子電導率的測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯系該技術所有人。
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