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測定ZSM-22分子篩中白硅石相含量的X射線衍射方法

682   編輯:管理員   來源:中冶有色技術網(wǎng)  
2023-03-19 07:27:48
一種測定ZSM?22分子篩中白硅石相含量的X射線衍射方法,包括如下內(nèi)容:a、將預處理的待測ZSM?22分子篩樣品與硅相標樣混合,并且濕法研磨,得待測混合試樣;白硅石相標樣和相同質(zhì)量的所述硅相標樣混合,并且濕法研磨,得待測混合標樣;b、用X射線衍射儀分別測定并收集所述待測混合試樣和所述待測混合標樣的粉末X射線衍射數(shù)據(jù)各兩套;c、采用X射線衍射數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)軟件中的PearsonⅦ化學計量學分峰程序,獲得每個試樣中白硅石相(101)晶面和硅相(111)晶面峰面積強度計數(shù)值并求其平均值,用K值法計算待測ZSM?22分子篩樣品中白硅石相的含量。
聲明:
“測定ZSM-22分子篩中白硅石相含量的X射線衍射方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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