本發(fā)明公開了一種鍍層厚度的測(cè)試方法,包括以下步驟:將待測(cè)樣品制成鍍層面積可以精確計(jì)算的樣品塊,樣品塊上的鍍層用強(qiáng)酸完全消解,制成一定體積的測(cè)試溶液,用電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀測(cè)定溶液中鍍層金屬成分的含量,然后計(jì)算鍍層成分的質(zhì)量,結(jié)合測(cè)得的樣品塊面積算出鍍層的厚度。本方法的優(yōu)點(diǎn)在于測(cè)試精準(zhǔn)度高、代表性強(qiáng),干擾少、誤差小、測(cè)試鍍層厚度范圍廣;一般化學(xué)實(shí)驗(yàn)室都能進(jìn)行測(cè)試,不需要專業(yè)的測(cè)厚儀。
聲明:
“鍍層厚度的測(cè)試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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