本發(fā)明公開了一種二維排列雙面錯嵌式三維探測器及其制備方法、陣列,包括上溝槽電極和下溝槽電極,上溝槽電極和下溝槽電極分別刻蝕在中間半導(dǎo)體基體表面;上溝槽電極內(nèi)嵌有上中央電極,上中央電極和上溝槽電極間填充有上半導(dǎo)體基體;下溝槽電極內(nèi)嵌有下中央電極,下溝槽電極和下中央電極間填充有下半導(dǎo)體基體;上溝槽電極和下溝槽電極的外寬均為2R
X,下溝槽電極位于上溝槽電極下方,兩者垂直相距d3,且兩者水平方向四分之一部位重疊,上中央電極和下中央電極規(guī)格相同。通過吸雜氧化在
芯片表面生成二氧化硅層,然后經(jīng)標(biāo)記與光刻將探測器圖形轉(zhuǎn)移到二氧化硅層上,再進(jìn)行陰極電極和陽極電極的刻蝕和化學(xué)沉積擴(kuò)散,最后進(jìn)行損傷修復(fù)及封裝。
聲明:
“二維排列雙面錯嵌式三維探測器及其制備方法、陣列” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)