本發(fā)明涉及一種評價標(biāo)記物的分析,尤其涉及一種準(zhǔn)確性更高的評價標(biāo)記物水平的方法。本發(fā)明一種評價標(biāo)記物水平的方法通過在不同的研究條件下,檢測每個實驗組中每一種標(biāo)記物影響因子在異常組和對照組中的數(shù)據(jù),并對前述采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行薈萃分析,對比各標(biāo)記物影響因子在不同研究條件下的異質(zhì)性和顯著性情況,計算各標(biāo)記物水平的評價指數(shù)。本發(fā)明可靠性更好、準(zhǔn)確性更高,可用于環(huán)境監(jiān)測、化學(xué)分析等領(lǐng)域。
聲明:
“評價標(biāo)記物水平的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)